domingo, 14 de marzo de 2010

Los amplificadores y atenuadores programables PXI amplían el conjunto de productos de prueba de radiofrecuencia y microondas de National Instruments

Nuevos instrumentos modulares que mejoran la calidad de la señal, el umbral de ruido y el control de potencia de los analizadores y generadores vectoriales de señales

National Instruments ha ampliado su línea de productos dedicados a pruebas automáticas con dos nuevos módulos de acondicionamiento de señales de RF que mejoran la precisión y la flexibilidad de las medidas de los sistemas de prueba de RF y microondas basados en PXI. En aplicaciones tales como el modelado de la degradación del camino de la señal de RF, medición de la intensidad de campo y pruebas de receptores, los ingenieros pueden combinar el nuevo atenuador de RF programable de 8 GHz NI PXI-5695 con un generador vectorial de señales (VSG) para mejorar la calidad de la señal de RF en niveles de baja potencia. Los ingenieros pueden integrar el preamplificador RF programable de 8 GHz NI PXI-5691, que también funciona como un amplificador de potencia, con los VSGs para incrementar la potencia máxima y con los analizadores vectoriales de señales (VSA) para medir señales de bajo nivel.



"El control preciso de los niveles de potencia de RF es un requisito fundamental para nosotros cuando probamos la sensibilidad del receptor", dijo Jeff May, ingeniero de pruebas en Itron, un proveedor líder de sistemas inteligentes de medida y pionero en tecnología de redes eléctricas inteligentes. "El nuevo atenuador programable de NI nos da el elevado nivel de precisión necesario para controlar de forma precisa los niveles de potencia de estímulo en los sistemas de prueba de producción PXI y esto es un ventaja importante que nos ayuda a mantener tanto la eficiencia como la calidad en nuestro proceso de prueba".

Asignatura: CRF
Dujeiny J Sánchez Q.
Extraido: http://digital.ni.com/worldwide/bwcontent.nsf/web/all/D6650F6164E4CBBE86257696003650F9?OpenDocument&node=167600_esa

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